Serwisy PANSA:

System SAMPLE zaprezentowany na targach WAC 2022 w Madrycie

Tworzony w ramach projektu Polskiej Agencji Żeglugi Powietrznej oraz firm Creotech Instruments S.A. i AP-TECH Sp. z o.o. , System Automatycznego Monitorowana Przeszkód Lotniczych i Ewidencji (SAMPLE) został zaprezentowany na prestiżowych targach World ATM Congress 2022 w Madrycie.

W ramach stoiska wystawienniczego firmy AP-TECH partnerzy zaprezentowali pierwsze wymierne efekty wspólnego projektu dofinansowanego przez Narodowe Centrum Badań i Rozwoju. System ma na celu wykorzystanie technologii satelitarnych do automatycznego pomiarowania, przetwarzania, wizualizacji i eksportu danych o przeszkodach lotniczych. Projekt SAMPLE wkracza w fazę komercjalizacji, stając się tym samym kolejnym produktem oferowanym biznesowo przez PAŻP, AP-TECH i Creotech Instruments, który pełni rolę lidera konsorcjum.

SAMPLE dostarczy podmiotom odpowiedzialnym za bezpieczeństwo ruchu lotniczego nowoczesne narzędzie, które pomoże zadbać zarówno o użytkowników przestrzeni lotniczej, jak i zwiększy komfort osób postronnych. Nowy system posłuży do wyznaczania oraz monitorowania przeszkód w określonych obszarach lotnisk i lądowisk oraz umożliwi podmiotom odpowiedzialnym za bezpieczeństwo ruchu lotniczego zarządzanie efektywnością wykonywanych operacji załogowych i bezzałogowych. Dla użytkowników przestrzeni powietrznej oznacza to także m.in. optymalizację trasy przelotu, a więc realną oszczędność czasu i paliwa.

Innowacyjny w skali świata system jest zasilany w wysokorozdzielcze dane satelitarne (Earth Observation) oraz produkty uzyskiwane metodami fotogrametrycznymi, a także wszelkie informacje z aktualnych baz danych o przeszkodach lotniczych. Może być wykorzystywany zarówno w lotnictwie załogowym i podczas operacji śmigłowcowych (np. HEMS), jak i w lotach bezzałogowych statków powietrznych (dronów).

Broszura informacyjna systemu SAMPLE (plik PDF)

Share on facebook
Facebook
Share on twitter
Twitter
Share on linkedin
LinkedIn
Share on email
Email
Share on print
Drukuj

Szukaj...